世通儀器檢測(cè)服務(wù)有限公司，全國(guó)有多個(gè)實(shí)驗(yàn)室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測(cè)，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來(lái)電咨詢-陳經(jīng)理
網(wǎng)絡(luò)分析儀一種能在寬頻帶內(nèi)進(jìn)行掃描測(cè)量以確定網(wǎng)絡(luò)參量的綜合性微波測(cè)量?jī)x器。全稱是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。網(wǎng)絡(luò)分析儀是測(cè)量網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的一種新型儀器，可直接測(cè)量有源或無(wú)源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡(luò)的復(fù)數(shù)散射參數(shù)，并以掃頻方式給出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性。自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析儀能對(duì)測(cè)量結(jié)果逐點(diǎn)進(jìn)行誤差修正，并換算出其他幾十種網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，如輸入反射系數(shù)、輸出反射系數(shù)、電壓駐波比、阻抗（或?qū)Ъ{）、衰減（或增益）、相移和群延時(shí)等傳輸參數(shù)以及隔離度和定向度等。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是微波毫米波測(cè)試儀器領(lǐng)域中為重要、應(yīng)用為廣泛的一種智能化測(cè)試儀器，在業(yè)界享有“微波/毫米波測(cè)試儀器”的美譽(yù)，主要用于被測(cè)網(wǎng)絡(luò)散射參量雙向S參數(shù)的幅頻、相頻及群時(shí)延等特性信息的測(cè)量，廣泛應(yīng)用于以相控陣?yán)走_(dá)為代表的新一代電子裝備研制、生產(chǎn)、維修和計(jì)量等領(lǐng)域，還可以應(yīng)用于制導(dǎo)、隱身及反隱身、航空航天、衛(wèi)星通信、雷達(dá)偵測(cè)和監(jiān)視、教學(xué)實(shí)驗(yàn)以及天線與RCS測(cè)試、元器件測(cè)試、材料測(cè)試等諸多領(lǐng)域矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，它本身自帶了一個(gè)信號(hào)發(fā)生器，可以對(duì)一個(gè)頻段進(jìn)行頻率掃描. 如果是單端口測(cè)量的話，將激勵(lì)信號(hào)加在端口上，通過(guò)測(cè)量反射回來(lái)信號(hào)的幅度和相位，就可以判斷出阻抗或者反射情況. 而對(duì)于雙端口測(cè)量，則還可以測(cè)量傳輸參數(shù). 由于受分布參數(shù)等影響明顯，所以網(wǎng)絡(luò)分析儀使用之前進(jìn)行校準(zhǔn)。
在微波電路的設(shè)計(jì)和計(jì)算中，需要對(duì)所用元、器件特性的全部網(wǎng)絡(luò)參數(shù)進(jìn)行全面定值。而微波元、器件中，包括微波晶體管，大多采用S參數(shù)（散射參數(shù)）來(lái)表述它們的特性。一般二端口網(wǎng)絡(luò)需要有四個(gè)散射參數(shù)（S11、S22、S12和S21），才能對(duì)其全面定值。因此往往采用測(cè)量的方法來(lái)確定網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)。
圖2 網(wǎng)絡(luò)分析儀框圖
圖2 網(wǎng)絡(luò)分析儀框圖
20世紀(jì)60年代中期，出現(xiàn)能在寬頻帶范圍內(nèi)掃頻測(cè)量并能顯示全部網(wǎng)絡(luò)S參數(shù)的模值和幅角的多功能儀器，這就是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。因此網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本部分實(shí)際上就是一臺(tái)S參數(shù)測(cè)量?jī)x。方框圖如圖2所示。
由于測(cè)定了網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)后，網(wǎng)絡(luò)的其它各種特性參量都可以從S參數(shù)中導(dǎo)出，因此，微波網(wǎng)絡(luò)分析儀具有多種功能。
網(wǎng)絡(luò)分析儀是在四端口微波反射計(jì)（見駐波與反射測(cè)量）的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。在60年代中期實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，利用計(jì)算機(jī)按一定誤差模型在每一頻率點(diǎn)上修正由定向耦合器的定向性不完善、失配和竄漏等而引起的誤差，從而使測(cè)量度大為提高，可達(dá)到計(jì)量室中精密的測(cè)量線技術(shù)的測(cè)量度，而測(cè)量速度提高數(shù)十倍 [2] 。
原理編輯 語(yǔ)音
一個(gè)任意多端口網(wǎng)絡(luò)的各端口終端均匹配時(shí)，由第n個(gè)端口輸入的入射行波 an將散射到其余一切端口并 發(fā)射出去。若第m個(gè)端口的出射行波為bm，則n口與m口之間的散射參數(shù)Smn=bm/an。一個(gè)雙口網(wǎng)絡(luò)共有四個(gè)散射參數(shù) S11、S21、S12和S22。當(dāng)兩個(gè)終端均匹配時(shí)，S11和S22就分別是端口1和2的反射系數(shù)，S21是由1口至2口的傳輸系數(shù)，S12則是反方向的傳輸系數(shù)。當(dāng)某一端口m終端失配時(shí)，由終端反射回來(lái)的行波又重新進(jìn)入m口。這可以等效地看成是m口仍是匹配的，但有一個(gè)行波am入射到m口。這樣，在任意情況下都可以列出各口等效入射、出射行波與散射參數(shù)之間關(guān)系的聯(lián)立方程組。據(jù)此可以解出網(wǎng)絡(luò)的一切特性參數(shù)，如終端失配時(shí)的輸入端反射系數(shù)、電壓駐波比、輸入阻抗以及各種正向反向傳輸系數(shù)等。這就是網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本的工作原理。單端口網(wǎng)絡(luò)可視為雙口網(wǎng)絡(luò)的特例，在其中除S11之外，恒有S21=S12=S22。對(duì)于多端口網(wǎng)絡(luò)，除了一個(gè)輸入和一個(gè)輸出端口之外，可在其余一切端口都接上匹配負(fù)載，從而等效為一個(gè)雙端口網(wǎng)絡(luò)。輪流選擇各對(duì)端口作為等效雙口網(wǎng)絡(luò)的輸入、輸出端，進(jìn)行一系列測(cè)量并列出相應(yīng)的方程，即可解得n端口網(wǎng)絡(luò)的全部n2個(gè)散射參數(shù)，從而求出n端口網(wǎng)絡(luò)的一切特性參數(shù)。 　圖3左為四端口網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量S11時(shí)測(cè)試單元的原理示意，箭頭表示各行波的路徑。信號(hào)源 u輸出信號(hào)經(jīng)開關(guān)S1和定向耦合器D2輸入到被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的端口1，這就是入射波a1。端口1的反射波（即1口的出射波b1）經(jīng)定向耦合器 D2和開關(guān)傳到接收機(jī)的測(cè)量通道。信號(hào)源u的輸出同時(shí)經(jīng)定向耦合器D1傳到接收機(jī)的參考通道，這個(gè)信號(hào)是正比于a1的。于是雙通道幅度-相位接收機(jī)就測(cè)出b1/a1，即測(cè)出S11，包括其幅值和相位（或?qū)嵅亢吞摬浚?。測(cè)量時(shí)，網(wǎng)絡(luò)的端口2接上匹配負(fù)載R1，以滿足散射參數(shù)所規(guī)定的條件。系統(tǒng)中的另一個(gè)定向耦合器D3也終接匹配負(fù)載R2，以免產(chǎn)生不良影響。其余三個(gè)S 參數(shù)的測(cè)量原理與此類同。圖3右為測(cè)量不同Smn參數(shù)時(shí)各開關(guān)應(yīng)放置的位置。
圖3 網(wǎng)絡(luò)分析儀
圖3 網(wǎng)絡(luò)分析儀
在實(shí)際測(cè)量之前，先用三個(gè)阻抗已知的標(biāo)準(zhǔn)器（例如一個(gè)短路、一個(gè)開路和一個(gè)匹配負(fù)載）供儀器進(jìn)行一系列測(cè)量，稱為校準(zhǔn)測(cè)量。由實(shí)測(cè)結(jié)果與理想（無(wú)儀器誤差時(shí)）應(yīng)有的結(jié)果比對(duì)，可通過(guò)計(jì)算求出誤差模型中的各誤差因子并存入計(jì)算機(jī)中，以便對(duì)被測(cè)件的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行誤差修正。在每一頻率點(diǎn)上都按此進(jìn)行校準(zhǔn)和修正。測(cè)量步驟和計(jì)算都十分復(fù)雜，非人工所能勝任。
上述網(wǎng)絡(luò)分析儀稱為四端口網(wǎng)絡(luò)分析儀，因?yàn)閮x器有四個(gè)端口，分別接到信號(hào)源、被測(cè)件、測(cè)量通道和測(cè)量的參考通道。它的缺點(diǎn)是接收機(jī)的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，誤差模型中并未包括接收機(jī)所產(chǎn)生的誤差。
參數(shù)編輯 語(yǔ)音
參數(shù)（散射參數(shù)）用于評(píng)估 DUT 反射信號(hào)和傳送信號(hào)的性能。 參數(shù)由兩個(gè)復(fù)數(shù)之比定義，它包含有關(guān)信號(hào)的幅度和相位的信息。 參數(shù)通常表示為：
輸出 輸入
輸出：輸出信號(hào)的 DUT 端口號(hào)。
輸入：輸入信號(hào)的 DUT 端口號(hào)。
例如，參數(shù) S21 是 DUT 上端口 2 的輸出信號(hào)與 DUT 上端口 1 的輸入信號(hào)之比，輸出信號(hào)和輸入信號(hào)都用復(fù)數(shù)表示。
當(dāng)啟動(dòng)平衡 - 不平衡轉(zhuǎn)換功能時(shí)，可以選擇混合模 S 參數(shù)。
新發(fā)展編輯 語(yǔ)音
1973年又研制出六端口網(wǎng)絡(luò)分析儀。它利用一個(gè)由定向耦合器和混合接頭（魔 T）組成的六端口網(wǎng)絡(luò)作為測(cè)量單元，除二個(gè)端口分別接信號(hào)源和被測(cè)件之外，其余四個(gè)端口均接到幅值檢波器或功率計(jì)。通過(guò)檢出的四個(gè)幅值的適當(dāng)組合，可以求出被測(cè)網(wǎng)絡(luò)散射參數(shù)的模和相位。它不必使用復(fù)雜的雙通道接收機(jī)來(lái)取得相位信息，從而使測(cè)量系統(tǒng)的硬件大為簡(jiǎn)化。此外，它有超過(guò)必需數(shù)目的冗余測(cè)量端口，可以利用冗余數(shù)據(jù)之間互相核對(duì)來(lái)提高測(cè)量結(jié)果的可信性。但它的計(jì)算工作比四端口網(wǎng)絡(luò)分析儀要復(fù)雜得多。采用雙六端口網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)測(cè)量雙端口網(wǎng)絡(luò)，即用一個(gè)六端口網(wǎng)絡(luò)儀接在被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的端口1，另一個(gè)接在端口2，可在測(cè)量過(guò)程中避免開關(guān)轉(zhuǎn)換或人工倒轉(zhuǎn)被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的輸入端和輸出端，進(jìn)一步提高了測(cè)量的度

世通儀器檢測(cè)服務(wù)有限公司，全國(guó)有多個(gè)實(shí)驗(yàn)室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測(cè)，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來(lái)電咨詢-陳經(jīng)理電子頻率計(jì)數(shù)器，功能是測(cè)量電子頻率。它根據(jù)頻率的不同范圍可把頻率計(jì)數(shù)器分為兩類：通用頻率計(jì)數(shù)器和微波頻率計(jì)數(shù)器（后者較為精密）。電子頻率計(jì)數(shù)器簡(jiǎn)稱頻率計(jì)數(shù)器 [1] ,根據(jù)頻率的不同范圍可把頻率計(jì)數(shù)器分為兩類：通用頻率計(jì)數(shù)器和微波頻率計(jì)數(shù)器。前者的測(cè)量范圍一般在1GHz以下；而微波頻率計(jì)數(shù)器提供從DC到數(shù)十GHz的頻率測(cè)量，可覆蓋整個(gè)射頻、微波頻段。1、高頻測(cè)量是頻率計(jì)數(shù)器特的優(yōu)勢(shì)，普通示波器很難達(dá)到。頻率測(cè)量很簡(jiǎn)單，將信號(hào)接入頻率計(jì)數(shù)器輸入端后再調(diào)節(jié)功能鍵至頻率測(cè)量，屏幕即顯示當(dāng)前頻率值。單一的頻率測(cè)量只需要一個(gè)輸入通道即可。
2、頻率計(jì)數(shù)器周期為波形振動(dòng)一次所需要的時(shí)間，是頻率的倒數(shù)。大多數(shù)頻率計(jì)數(shù)器都會(huì)提供這項(xiàng)功能。信號(hào)周期的測(cè)量方法和頻率測(cè)量基本相似。
3、頻率計(jì)數(shù)器頻率比是對(duì)兩個(gè)頻率進(jìn)行比較，它可用來(lái)測(cè)試倍頻器或前置換算器（分頻器）的性能。在許多儀器系統(tǒng)中，兩個(gè)頻率的比值遠(yuǎn)比兩個(gè)立的頻率值有意義。例如在比率電容傳感器研發(fā)中，工程師關(guān)心的是兩個(gè)信號(hào)的頻率比。
4、頻率計(jì)數(shù)器統(tǒng)計(jì)功能：可以用來(lái)統(tǒng)計(jì)和顯示當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差，并能選擇統(tǒng)計(jì)次數(shù)。標(biāo)準(zhǔn)偏差是描述信號(hào)一致性好環(huán)的參數(shù)。標(biāo)準(zhǔn)偏差越大，表示信號(hào)幅值相差比較大，一致性差；而較小的標(biāo)準(zhǔn)偏差表示信號(hào)的幅值都很接近，信號(hào)波動(dòng)小。
電子頻率計(jì)數(shù)器 - 應(yīng)用領(lǐng)域
1、頻率計(jì)數(shù)器功能是根據(jù)其應(yīng)用來(lái)設(shè)計(jì)的。頻率計(jì)數(shù)器常見的應(yīng)用是確定發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的特性。發(fā)射機(jī)的頻率進(jìn)行檢驗(yàn)和校準(zhǔn)，才能符合有關(guān)規(guī)章制度的要求。頻率計(jì)數(shù)器能對(duì)輸出頻率和一些關(guān)鍵的內(nèi)部頻率點(diǎn)(如本振)進(jìn)行測(cè)量，查明無(wú)線電發(fā)射時(shí)候是否滿足技術(shù)指標(biāo)。
2、頻率計(jì)數(shù)器的另一些應(yīng)用包括計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，在此領(lǐng)域中的數(shù)據(jù)通信、微處理器和顯示器中都使用了時(shí)鐘。對(duì)性能要求不高的應(yīng)用領(lǐng)域包括對(duì)機(jī)電產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。
3、頻率計(jì)數(shù)器的早期應(yīng)用之一是作為信號(hào)發(fā)生器的一部分。在信號(hào)發(fā)生器信號(hào)輸出之前，先通過(guò)頻率計(jì)數(shù)器部件測(cè)量該信號(hào)，測(cè)量到的結(jié)果被轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)用于反饋控制信號(hào)發(fā)生器的頻率，直到達(dá)到所需要的數(shù)值，從而能得到穩(wěn)定的信號(hào)輸出。很多信號(hào)發(fā)生器中都集成了頻率計(jì)數(shù)器的簡(jiǎn)單功能。例如OI1842信號(hào)發(fā)生器也集成了測(cè)量范圍為0.1Hz～50MHz的頻率計(jì)功能。

世通儀器檢測(cè)服務(wù)有限公司，全國(guó)有多個(gè)實(shí)驗(yàn)室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測(cè)，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來(lái)電咨詢-陳經(jīng)理X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，會(huì)放射出特征X光；不同的元素會(huì)放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長(zhǎng)特性。檢測(cè)器(Detector)接受這些X光，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的信號(hào)。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學(xué)研究、法醫(yī)學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管（EURoHS）和考古學(xué)等領(lǐng)域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補(bǔ)，減少工廠附設(shè)的品管實(shí)驗(yàn)室之分析人力投入。 當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢(shì)，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道，以填補(bǔ)遺留下來(lái)的洞。在“回補(bǔ)”的過(guò)程會(huì)釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。 [1]
X射線熒光光譜法在化學(xué)分析編輯 語(yǔ)音
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過(guò)程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對(duì)能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長(zhǎng)分散式則為從輕元素的硼到鈾。 [2]