供應(yīng)商	北京瑞科中儀科技有限公司店鋪
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關(guān)鍵詞	高壓蔡司電子顯微鏡,湖北電子顯微鏡,十萬倍蔡司電子顯微鏡,十萬倍蔡司電子顯微鏡
所在地	北京市海淀區(qū)建材城西路50號(hào)2號(hào)樓3層031室

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

充分發(fā)揮 Gemini 2 型光學(xué)系統(tǒng)的性能優(yōu)勢(shì)
GeminiSEM 460 的特殊之處在于配備的 Gemini 2 型光學(xué)系統(tǒng)主要運(yùn)用了雙聚光鏡，在獲得理想的小電子束斑同時(shí)可連續(xù)調(diào)節(jié)束流。這使高電子束能量密度下的低束流高分辨率成像和高束流分析得到了。此外，您也可以在不同的成像模式之間進(jìn)行無縫切換或更改成像參數(shù)。此操作簡(jiǎn)便快速，因?yàn)?在更改成像參數(shù)后無需進(jìn)行校準(zhǔn)，而且經(jīng)調(diào) 校的掃描電鏡可以保持穩(wěn)定地工作。

Gemini 2 型電子光學(xué)鏡筒讓 GeminiSEM 460 成為高束流下獲取高分辨率成像和快速分析的理想之選。另外，它還集上一代 Gemini 光學(xué)系統(tǒng)的所有優(yōu)勢(shì)于一身。例如，確保了大視野范圍內(nèi)的無畸變 EBSD 分析和高分辨率成像的物鏡無漏磁設(shè)計(jì)。
因此您也能夠在不影響電子光學(xué)性能的前提下傾斜樣品，甚至還能輕松完成磁性樣品成像。

Nano-twin 物鏡
Nano-twin 物鏡是一種在低加速電壓條件下工作的電鏡( EM ) 物鏡。通過優(yōu)化幾何結(jié) 構(gòu)和靜電場(chǎng)及磁場(chǎng)分布，獲得出色的信號(hào) 探測(cè)效率，從而可以在低電壓下達(dá)到亞納米級(jí)分辨率。具體來說，與標(biāo)準(zhǔn)的 Gemini 物鏡相比，它在低電壓下的像差降低了 3 倍。這使得樣品上的磁場(chǎng)降低了 3 倍，約為 1mT ，并能夠進(jìn)行 1kV 以下亞納米成像，而無需將樣品浸沒在電磁場(chǎng)中。

? 通過 Nano-twin 物鏡實(shí)現(xiàn)低電壓下的優(yōu) 化高分辨率
? 通過新的大視野概覽模式實(shí)現(xiàn)樣品導(dǎo)航和高分辨率成像之間的無縫過渡
? 通過新的自動(dòng)聚焦功能和新的快速鏡筒對(duì) 中算法實(shí)現(xiàn)高速優(yōu)化圖像質(zhì)量。

智能自動(dòng)光路調(diào)節(jié)優(yōu)化了通過鏡筒的電子軌跡，從而確保了在每個(gè)加速電壓下盡可能高的分辨率。它還引入了新的自動(dòng)功能，在整個(gè)放大倍數(shù)范圍內(nèi)(從 1 倍到 2,000,000 倍) 實(shí)現(xiàn)無縫對(duì)準(zhǔn)自由切換，并將觀察視野增加了 10 倍，從而可以在單幅圖像中完整成像 13 厘米的物體。GeminiSEM 560 保持了市場(chǎng)上尺寸達(dá) 32k × 24k 的超大圖像存儲(chǔ)像素，在大視野無畸變拼接成像方面優(yōu)勢(shì)。

分辨率模式
在高分辨率電子槍模式下，電子束色差降低，從而實(shí)現(xiàn)更小的束斑。
在樣品臺(tái)減速技術(shù)模式下，為樣品施加減速電壓。該減速電壓可進(jìn)一步提高 1 kV 以下的圖像分辨率并增強(qiáng)背散射探測(cè)器的檢測(cè)效率。

維修、維護(hù)及優(yōu)化
確保顯微鏡的正常工作時(shí)間。蔡司的維保服務(wù)協(xié)議可讓您的運(yùn)行成本更經(jīng)濟(jì)，避免因停機(jī)而造成的損失，并通過提升系統(tǒng)性能達(dá)到理想的工作狀態(tài)。維保服務(wù)協(xié)議可為您提供一系列的可選服務(wù)種類以及不同級(jí)別的服務(wù)。在選擇維保服務(wù)方案上我們會(huì)給予全力支持，以求滿足您的系統(tǒng)需求與使用要求，同時(shí)遵守您單位的規(guī)定。

強(qiáng)化顯微鏡系統(tǒng)
蔡司顯微鏡系統(tǒng)可采用多種方式升級(jí)：開放式的升級(jí)界面讓您一直保持較高的技術(shù)水準(zhǔn)。當(dāng)新升級(jí)的裝備付諸應(yīng)用時(shí)，不僅能延長(zhǎng)顯微鏡的使用壽命，還能提高工作效率。

成像靈活.光學(xué)顯微鏡和共聚焦顯微鏡二合一
■ 實(shí)現(xiàn)反射光和透射光的觀察, 同時(shí)也可進(jìn) 行形貌表征;
■ 使用寬場(chǎng)觀察方式實(shí)現(xiàn)樣品的定位, 便于共聚焦顯微鏡進(jìn)—步原位分析;
■ 無需切換顯微鏡, 減少儀器設(shè)置時(shí)間, 提高獲得結(jié)果的效率。